Nombre:
José Campos Alvarez
Correo electrónico:
jca@ier.unam.mx
Teléfono:
(777) 3 62 00 90 ext.

Especialidades

  • Microscopía electrónica de barrido

  • Caracterización optoelectrónica de materiales y dispositivos

  • Desarrollo de sistemas de medición

  • Microscopía electrónica de barrido

  • desarrollo de sistemas de medición

  • caracterización optoelectrónica de materiales y dispositivos

  • Producción académica

    José Campos Álvarez

    Nacido el 14 de Septiembre de 1960, en Monterrey N.L., México

    Licenciatura en Física, Facultado de Ciencias Físico Matemáticas, U.A.N.L. (1985)

    Maestría en Física de Materiales, Facultad de Ciencias, UNAM. (1994)

    Miembro de SNI, Nivel 1.

    57 Artículos, 1330 citas, índice h: 22. 

    Líneas de investigación:

    1. caracterización optoelectrónica de materiales y dispositivos
    2. desarrollo de sistemas de medición
    3. microscopía electrónica de barrido

Contacto:

e-mail: dir@ier.unam.mx
Tels. (52) 777 362 0090 (ext. 29744) y (52) 555 622 9744
Priv. Xochicalco S/N Temixco, Morelos 62580 México.

webmaster: web@ier.unam.mx